Partikkelanalysator med særdeles høy oppløsning og et stort dynamisk måleområde

Finn partikler helt ned til 10 nm

Partikkelinstrumentet LS 13 320 XR er laget spesielt for å utføre raske og nøyaktige analyser av partikkelstørrelse og fordeling i både suspensjoner, emulsjoner og tørt pulver. Instrumentet er er utstyrt med avansert PIDS teknologi som gir særdeles gode data for partikkelstørrelsefordeling. Og når PIDS teknikken blir kombinert med laserdiffraksjon er resultatet en partikkelanalysator med meget høy oppløsning over et stort dynamisk måleområde.

  • Direkte måleområde 10 nm – 3 000 µm
  • Automatisk markering av resultatet med «Pass/Fail»
  • Programvare hvor det er enkelt å sette opp standard målemetoder
  • 1-klikk teknikk for sammenligning med historiske data
  • Analyse av tørre og våte prøver
  • Programvare tilrettelagt for 21 CFR Part 11
  • Avansert automodalitet
Kontakt Heidi Testad for mer informasjon eller klikk på produktlinken under

Relaterte produkter