Partikkelanalysator LS 13 320 XR hjelper deg til å oppdage de små forskjellene
LS 13 320 XR er utstyrt med avansert PIDS teknologi som gir særdeles gode data for partikkelstørrelsefordeling. Og når PIDS teknikken blir kombinert med laserdiffraksjon er resultatet en partikkelanalysator med meget høy oppløsning over et stort dynamisk måleområde.
- Direkte måleområde 10 nm – 3 000 µm
- Resultatene blir automatisk markert med «Pass/Fail» og gjør det enkelt for operatøren å tolke prøvesvaret
- Programvare hvor det er enkelt å sette opp standard målemetoder
- 1-klikk teknikk for å sammenligne med historiske data
- Analysemoduler for tørre og våte prøver
- Programvare tilrettelagt for 21 CFR Part 11
- Avansert automodalitet - oppnå korrekte resultater uten forhåndskunnskap om størrelsefordeling i prøven
Bruksområder
Partikkelinstrumentet LS 13 320 XR er laget spesielt for å utføre raske og nøyaktige analyser av partikkelstørrelse og fordeling i både suspensjoner, emulsjoner og tørt pulver. Her er noen typiske områder hvor partikkelanalyse blir bruk til å bedømme kvalitet
- Farmasøytiske produkter
- Mat- og drikkevarer
- Kjemikalier og materialer
- Slipemidler
- Sement
- Kosmetikk
- Tonere og blekk
- Nanoteknologi
PIDS Technology* i kombinasjon med laserdiffraksjon for direkte deteksjon av partikler ned til 10 nm.
- Prøven blir bestrålt med lys bestående av 3 bølgelengder (450, 600 og 900 nm) som vekselvis blir polarisert vertikalt og horisontalt
- Instrumentet måler lysspredningen fra prøven fra en rekke forskjellige vinkler
- Store og små partikler bryter polarisert lys på forskjellige måter, og denne egenskapen danner grunnlaget for måling av størrelsefordeling
- Ved å måle forskjellen i horisontal og vertikal lysintensitet for hver bølgelengde gir instrumentet høyoppløslige data om partikkelstørrelse og fordeling i prøven
* Polarization Intensity Differential Scattering (PIDS)